收藏我们 | 欢迎来到芝麻天下—二手设备直卖网 【设为首页】 客服服务 用户中心
苏州 [切换城市] 快速采购
首页 > 售后保障 > 常见问题

三坐标测量机探测系统的分类及特点

发布时间: 2016-07-07   作者:   来源:   浏览次数:
摘要: 三坐标测量机的探测系统是由测座、测头、探针组成的系统,它是坐标测量机的关键部件.

三坐标测量机探测系统的分类及特点

    三坐标测量机的探测系统是由测座、测头、探针组成的系统,测头是测量机探测时发送信号的装置,它可以输出开关信号,亦可以输出与探针偏转角度成正比的比例信号,它是坐标测量机的关键部件,测头精度的高低很大程度决定了测量机的测量重复性及精度;不同零件需要选择不同功能的测头进行测量。
  1、测头的分类
  ◆ 触发测头: 触发测头(Trigger Probe):又称为开关测头,测头的主要任务是探测零件并发出锁存信号,实时的锁存被测表面坐标点的三维坐标值。触发测头一般发出的为跳变的方波电信号,利用电信号的前缘跳变作为锁存信号,由于前缘信号很陡,一般在微秒级,因此保证了锁存坐标值的实时性。
  ◆ 扫描测头(Scanning Probe):又称为比例测头或模拟测头,此类测头不仅能作触发测头使用,更重要的是能输出与探针的偏转成比例的信号(模拟电压或数字信号),由计算机同时读入探针偏转及测量机的三维坐标信号(作触发测头时则锁存探测表面坐标点的三维坐标值),以保证实时的得到被探测点的三维坐标,由于取点时没有测量机的机械往复运动,因此采点率大大提高,扫描测头用于离散点测量时,由于探针的三维运动可以确定该点所在表面的法矢方向,因此更适于曲面的测量。
  ◆ 接触式测头与非接触式测头:
  接触式测头(Contact Probe):需与待测表面发生实体接触的探测系统。
  非接触式测头(Non-Contact Probe):不需与待测表面发生实体接触的探测系统,例如光学探测系统、激光扫描探测系统等。
  2、分度测座
  ◆ 集成测头的手动旋转测座
  特征:基本型,经济实用的集成式测头和测座系统,可以手动定位内置测头的方位,从而在空间内完成工件所有特征的测量。
  ◆ 集成测头的手动分度式测座
  两个自由度的集成测头和测座系统,允许以设定的可重复分度在空间内手动定位其内置的测头,提高了手动和机动测量机的灵活性。
  ◆ 自动可分度测座
  特征:两个自由度的测座,可在空间内以良好的重复性自动定位测头,能够自动更换测量传感器,旋转后不需重新校准测头,因此针对工件的表面可以选择最适合的角度测量。
  3、测头
  ◆ 点到点触发测头
  特征: 应用广泛的触发式电子测头,可完成快速和重复性的测量任务。使用寿命长,精确高,便于使用,成本相对较低,测量空间局限性小。 适于三维箱体类工件的测量。
  ◆ 可分度更换扫描测头
  特征:高精度快速扫描测头,通过获取大量的数据点,完成对箱体类零件和轮廓曲面的可靠测量。可安装于分度式测座,并可与其他测头进行互换。用于几何元素、复杂形状和轮廓的测量,对诸如尺寸、位置和形状等几何特征进行完整的描述。
  ◆ 固定式扫描测头
  特征:极高精度的扫描测座,可向测量机发送连续的数据信息。被安装于测量机Z 轴上,并可配置较长的加长杆以完成较深特征元素的测量工作。检测精度高,广泛用于检测形状误差、复杂几何形状和轮廓外形,包括尺寸、位置和形状。
  ◆ 非接触光学测头
  特征:利用判断阴影及反光在光电器件上生成的特性类型(轮廓的灰度值),人工对准或自动发出锁存信号,锁存垂直于光轴方向的两维坐标。完成对小的尺寸特征的放大测量,尤其是在大的工件上面具备小的测量特征时。
  ◆ 非接触激光扫描测头
  特征:非接触激光扫描测头,利用三角测量法,垂直于测头方向的两维坐标由测量机的坐标系给出,光轴方向尺寸由三角形原理由测量机探测轴的位置给出,能够在短时间获取工件表面的大量数据点云。
  应用:不仅可以完成数字化测量,实现逆向工程的应用,还可以完成复杂几何形状和要素的CAD比对测量与分析。
  4、探针
  安装在测头上,并接触被测量元件,典型结构为测杆+红宝石球。不同形状和规格,确保测头不受限制的对工件所有特征元素进行测量。
  5 、附件
  ◆ 加长杆:探针的辅助测量,具有测量较深位置特征的能力。
  ◆ 更换架:可对测量机测座上的测头/加长杆/探针组合进行快速、可重复的更换,在同一的测量系统下对不同的工件进行完全自动化的检测。


芝麻天下版权所有©2021-2024 狼耀(苏州)信息科技有限公司运营 苏ICP备16032290号-1

友情链接| MAP